GaN-based epitaxy on silicon: stress measurements
- 作者A. Krost; A. Dadgar; G. Strassburger; R. Clos
- 卷第200卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1862-6319
- 文件大小1148.89KB
- 发表时间2003
- DOI10.1002/pssa.200303428
- 页码26-35
LiteraturV. Grafe; E. Abderhalden; A. Durig; H. v. Euler; Beth v. Euler; R. v. Grasser; O. Mezger; C. A. Curtis; F. Krauss; O. Kausch; G. A. Krause; E. Klarmann · 1929
DemonstrationenO. Aziz; A. Bayer; G. Boehm; D. Braasch; K. Brück; E. David; K. H. Dittberner; G. Thews; H. Hensel; Manfried Hoke; H. Kammermeier; H. G. Klingenberg; Arnt Kohlrausch; T. Koyama; H. Krause; W. Lochner; H. -D. Henatsch · 1964
VergiftungenSchönberg; Esser; Karbe; B. Mueller; O. Eichler; Fr. Krause; G. Strassmann; Panse; Wilcke; Kärber; Endre Makai; H. -J. Scherer; O. Wuth; Estler; Lehrnbecher; Ruickoldt; Steck; H. Müller; A. Fröhlich; Rudolf Merkel · 1935
LiteraturJ. König; H. Lacour; G. Staiger; W. Hirt; O. Krug; H. Wüstenfeld; E. Krause; Stirnus; A. Bömer; F. Mach; P. Lederle; G. Metge; R. Fresenius · 1926
Genome-Wide Comparison of Medieval and Modern Mycobacterium lepraeSchuenemann, V. J.; Singh, P.; Mendum, T. A.; Krause-Kyora, B.; Jager, G.; Bos, K. I.; Herbig, A.; Economou, C.; Benjak, A.; Busso, P.; Nebel, A.; Boldsen, J. L.; Kjellstrom, A.; Wu, H.; Stewart, G. R.; Taylor, G. M.; Bauer, P.; Lee, O. Y.- C.; Wu, H. H. T.; Minnikin, D. E.; Besra, G. S.; Tucker, K.; Roffey, S.; Sow, S. O.; Cole, S. T.; Nieselt, K.; Krause, J. · Science · 2013
SyphilisH. Schöfer; N. H. Brockmeyer; H.-J. Hagedorn; O. Hamouda; W. Handrick; W. Krause; U. Marcus; D. Münstermann; K. U. Petry; H. Prange; A. Potthoff; G. Gross · 2005
Enhanced domain imaging techniquesG. C. Rauch; R. F. Krause; C. P. Izzo; K. Foster; W. O. Bartlett · 1984
On the Structure of Annealed Si SurfacesG. O. Krause · 1969