Crack formation and development in AlGaN/GaN structures

P. J. Parbrook; T. Wang; M. A. Whitehead; C. N. Harrison; R. J. Lynch; R. T. Murray

作者P. J. Parbrook; T. Wang; M. A. Whitehead; C. N. Harrison; R. J. Lynch; R. T. Murray
期第7期
印刷ISSN1610-1634
电子ISSN1610-1642
文件大小251.62KB
发表时间2003
DOI10.1002/pssc.200303546
页码2055-2058

发现好书期刊，享受阅读乐趣