发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Annealing of low-temperature growth in Ag/Si(111) as measured by RHEED spot profile analysis

K. R. Kimberlin; G. M. Rutter; L. M. Nagle; K. R. Roos; M. C. Tringides

作者K. R. Kimberlin; G. M. Rutter; L. M. Nagle; K. R. Roos; M. C. Tringides
卷第35卷
期第13期
印刷ISSN0142-2421
电子ISSN1096-9918
文件大小110.28KB
发表时间2003
DOI10.1002/sia.1656
页码1069-1072

← 返回【学霸图书馆】主页