Electrical characterization of low temperature deposited oxide films on ZnO/n-Si substrate

• 作者S. K. Nandi; S. Chatterjee; S. K. Samanta; P. K. Bose; C. K. Maiti
• 卷第26卷
• 期第7期
• 印刷ISSN0250-4707
• 电子ISSN0973-7669
• 文件大小274.63KB
• 发表时间2003-12
• DOI10.1007/bf02706765
• 页码693-697