发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Design of Embedded Self-Testing Checkers fort-UED and BUED Codes

Design of Embedded Self-Testing Checkers fort-UED and BUED Codes

Steffen Tarnick

作者Steffen Tarnick
卷第20卷
期第5期
印刷ISSN0923-8174
电子ISSN1573-0727
文件大小189.93KB
发表时间2004-10
DOI10.1023/b:jett.0000042511.45945.81
页码465-477

← 返回【学霸图书馆】主页