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An endurance evaluation method for flash EEPROM

Zous, N.-K.; Yin-Jen Chen; Chi-Yuan Chin; Tsai, W.-J.; Tao-Cheng Lu; Ming-Shiang Chen; Wen-Pin Lu; Tahui Wang; Pan, S.C.; Chih-Yuan Lu

作者Zous, N.-K.; Yin-Jen Chen; Chi-Yuan Chin; Tsai, W.-J.; Tao-Cheng Lu; Ming-Shiang Chen; Wen-Pin Lu; Tahui Wang; Pan, S.C.; Chih-Yuan Lu
卷第51卷
期第5期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小330.53KB
发表时间2004
DOI10.1109/ted.2004.826871
页码720-725