Energy-band alignments at ZrO[sub 2]âSi, SiGe, and Ge interfaces
Wang, S. J.; Huan, A. C. H.; Foo, Y. L.; Chai, J. W.; Pan, J. S.; Li, Q.; Dong, Y. F.; Feng, Y. P.; Ong, C. K.
- 期刊名称Applied Physics Letters
- 作者Wang, S. J.; Huan, A. C. H.; Foo, Y. L.; Chai, J. W.; Pan, J. S.; Li, Q.; Dong, Y. F.; Feng, Y. P.; Ong, C. K.
- 卷第85卷
- 期第19期
- 印刷ISSN0003-6951
- 文件大小378.14KB
- 发表时间2004
- DOI10.1063/1.1819988