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Energy-band alignments at ZrO[sub 2]∕Si, SiGe, and Ge interfaces

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Wang, S. J.; Huan, A. C. H.; Foo, Y. L.; Chai, J. W.; Pan, J. S.; Li, Q.; Dong, Y. F.; Feng, Y. P.; Ong, C. K.
  • 期刊名称Applied Physics Letters
  • 作者Wang, S. J.; Huan, A. C. H.; Foo, Y. L.; Chai, J. W.; Pan, J. S.; Li, Q.; Dong, Y. F.; Feng, Y. P.; Ong, C. K.
  • 卷第85卷
  • 期第19期
  • 印刷ISSN0003-6951
  • 文件大小378.14KB
  • 发表时间2004
  • DOI10.1063/1.1819988
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