Runaway Detection in a Pilot-Plant Facility
Bosch, J.; Kerr, D. C.; Snee, T. J.; Strozzi, F.; Zaldívar, J. M.
- 期刊名称Industrial & Engineering Chemistry Research
- 作者Bosch, J.; Kerr, D. C.; Snee, T. J.; Strozzi, F.; Zaldívar, J. M.
- 卷第43卷
- 期第22期
- 印刷ISSN0888-5885
- 电子ISSN1520-5045
- 文件大小115.09KB
- 发表时间2004-10
- DOI10.1021/ie049540l
- 页码7019-7024