发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Lateral Migration of Trapped Holes in a Nitride Storage Flash Memory Cell and Its Qualification Methodology

N. Zous; M. Lee; W. Tsai; A. Kuo; L. Huang; T. Lu; C. Liu; T. Wang; W. Lu; W. Ting; J. Ku; C. Lu

作者N. Zous; M. Lee; W. Tsai; A. Kuo; L. Huang; T. Lu; C. Liu; T. Wang; W. Lu; W. Ting; J. Ku; C. Lu
卷第25卷
期第9期
文件大小131.68KB
发表时间2004
DOI10.1109/LED.2004.833824
页码649-651