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Biometrics Boom

Biometrics Boom

Schwiedrzik, Johann Jakob; Zysset, Philippe Kurt

期刊名称IEEE Spectrum
作者Schwiedrzik, Johann Jakob; Zysset, Philippe Kurt
卷第41卷
期第3期
印刷ISSN0018-9235
文件大小6149.82KB
发表时间2004-03
DOI10.1109/mspec.2004.1270539
页码13-13

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