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Scanning tunneling microscopy on ultrathin silicon on insulator (100)

Scanning tunneling microscopy on ultrathin silicon on insulator (100)

Sutter, P.; Ernst, W.; Sutter, E.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Sutter, P.; Ernst, W.; Sutter, E.
卷第85卷
期第15期
印刷ISSN0003-6951
文件大小441.14KB
发表时间2004
DOI10.1063/1.1806539

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