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Charge Retention Loss and Its Mechanism of (Bi, La)
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Charge Retention Loss and Its Mechanism of (Bi, La) ₄ Ti ₃ O ₁₂ Capacitors

Kim, D. J.; Jo, J. Y.; So, Y. W.; Kang, B. S.; Noh, T. W.; Yoon, Jong-Gul; Song, T. K.; Noh, K. H.; Lee, S.-S.; Oh, S.-H.; Hong, S.-K.; Park, Y.-J.

期刊名称Integrated Ferroelectrics
作者Kim, D. J.; Jo, J. Y.; So, Y. W.; Kang, B. S.; Noh, T. W.; Yoon, Jong-Gul; Song, T. K.; Noh, K. H.; Lee, S.-S.; Oh, S.-H.; Hong, S.-K.; Park, Y.-J.
卷第67卷
期第1期
印刷ISSN1058-4587
电子ISSN1607-8489
文件大小254.03KB
发表时间2004-01
DOI10.1080/10584580490898542
页码85-91

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