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X-ray omni microscopy

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D. PAGANIN; T. E. GUREYEV; S. C. MAYO; A. W. STEVENSON; YA. I. NESTERETS; S. W. WILKINS
  • 作者D. PAGANIN; T. E. GUREYEV; S. C. MAYO; A. W. STEVENSON; YA. I. NESTERETS; S. W. WILKINS
  • 卷第214卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0022-2720
  • 电子ISSN1365-2818
  • 文件大小444.55KB
  • 发表时间2004
  • DOI10.1111/j.0022-2720.2004.01315.x
  • 页码315-327
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