Automated selection of test frequencies for fault diagnosis in analog electronic circuits
- 作者Alippi, C.; Catelani, M.; Fort, A.; Mugnaini, M.
- 卷第54卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0018-9456
- 电子ISSN1557-9662
- 文件大小561.38KB
- 发表时间2005
- DOI10.1109/tim.2005.847115
- 页码1033-1044
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