Investigation of drain-line loss and the S22 kink effect in capacitively coupled distributed amplifiers

• 作者Shohat, J.; Robertson, I.D.; Nightingale, S.J.
• 卷第53卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0018-9480
• 电子ISSN1557-9670
• 文件大小813.80KB
• 发表时间2005
• DOI10.1109/tmtt.2005.859873
• 页码3767-3773