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Two-sided empirical Bayes test for truncation parameter using NA samples

Two-sided empirical Bayes test for truncation parameter using NA samples

Yimin Shi; Xiaolin Shi; Jie Yan

作者Yimin Shi; Xiaolin Shi; Jie Yan
卷第173卷
印刷ISSN0020-0255
文件大小214.50KB
发表时间2005
DOI10.1016/j.ins.2004.06.007
页码65-74

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