Thermal degradation of low temperature poly-Si TFT

• 作者Takashi Fuyuki; Koji Kitajima; Hiroshi Yano; Tomoaki Hatayama; Yukiharu Uraoka; Shinichiro Hashimoto; Yukihiro Morita
• 卷第487卷
• 印刷ISSN0040-6090
• 文件大小300.10KB
• 发表时间2005
• DOI10.1016/j.tsf.2005.01.068
• 页码216-220