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Electrical Degradation of N-Channel Poly-Si TFT under AC Stress

Chen, C. W.; Chang, T. C.; Liu, P. T.; Lu, H. Y.; Tsai, T. M.; Weng, C. F.; Hu, C. W.; Tseng, T. Y.

期刊名称Electrochemical and Solid-State Letters
作者Chen, C. W.; Chang, T. C.; Liu, P. T.; Lu, H. Y.; Tsai, T. M.; Weng, C. F.; Hu, C. W.; Tseng, T. Y.
卷第8卷
期第9期
印刷ISSN1099-0062
文件大小329.82KB
发表时间2005
DOI10.1149/1.1960173