Electron accumulation at InN/AlN and InN/GaN interfaces

• 作者T. D. Veal; L. F. J. Piper; I. Mahboob; Hai Lu; W. J. Schaff; C. F. McConville
• 卷第2卷
• 期第7期
• 印刷ISSN1610-1634
• 电子ISSN1610-1642
• 文件大小262.53KB
• 发表时间2005
• DOI10.1002/pssc.200461418
• 页码2246-2249