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Total System Reliability: Integrated Model for Growth and Test Termination

Total System Reliability: Integrated Model for Growth and Test Termination

John Donovan; Eamonn Murphy

作者John Donovan; Eamonn Murphy
卷第21卷
期第4期
印刷ISSN0748-8017
电子ISSN1099-1638
文件大小214.96KB
发表时间2005
DOI10.1002/qre.646
页码329-344

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