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High-level delay test generation for modular circuits

High-level delay test generation for modular circuits

Joonhwan Yi; Hayes, J.P.

作者Joonhwan Yi; Hayes, J.P.
卷第25卷
期第3期
印刷ISSN0278-0070
电子ISSN1937-4151
文件大小826.13KB
发表时间2006
DOI10.1109/tcad.2005.853697
页码576-590

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