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Modeling and analysis of loading effect on leakage of nanoscaled bulk-CMOS logic circuits

Modeling and analysis of loading effect on leakage of nanoscaled bulk-CMOS logic circuits

Mukhopadhyay, S.; Bhunia, S.; Roy, K.

作者Mukhopadhyay, S.; Bhunia, S.; Roy, K.
卷第25卷
期第8期
印刷ISSN0278-0070
电子ISSN1937-4151
文件大小545.76KB
发表时间2006
DOI10.1109/tcad.2005.855934

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