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Extracting Defect Density and Size Distributions from Product ICs

Nelson, J.E.; Zanon, T.; Brown, J.G.; Poku, O.; Blanton, R.D.; Maly, W.; Benware, B.; Schuermyer, C.

作者Nelson, J.E.; Zanon, T.; Brown, J.G.; Poku, O.; Blanton, R.D.; Maly, W.; Benware, B.; Schuermyer, C.
卷第23卷
期第5期
文件大小210.88KB
发表时间2006
DOI10.1109/mdt.2006.117
页码390-400