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Interface traps distribution and temperature-dependent 6H-SiC MOSFET analysis

Interface traps distribution and temperature-dependent 6H-SiC MOSFET analysis

Kaushik, Navneet; Haldar, Subhasis; Gupta, Mridula; Gupta, R S
  • 期刊名称Semiconductor Science and Technology
  • 作者Kaushik, Navneet; Haldar, Subhasis; Gupta, Mridula; Gupta, R S
  • 卷第21卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0268-1242
  • 电子ISSN1361-6641
  • 文件大小225.75KB
  • 发表时间2006-01-01
  • DOI10.1088/0268-1242/21/1/002
  • 页码6-12
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