发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Optical characterization of dislocation free Ge and GeOI wafers

Optical characterization of dislocation free Ge and GeOI wafers

Seref Kalem; I. Romandic; A. Theuwis

作者Seref Kalem; I. Romandic; A. Theuwis
卷第9卷
印刷ISSN1369-8001
文件大小620.42KB
发表时间2006
DOI10.1016/j.mssp.2006.08.035
页码753-758

← 返回【学霸图书馆】主页