Current degradation mechanism of single wall carbon nanotube emitters during field emission
Lee, J. H.; Lee, S. H.; Kim, W. S.; Lee, H. J.; Heo, J. N.; Jeong, T. W.; Baik, C. W.; Park, S. H.; Yu, SeGi; Park, J. B.; Jin, Y. W.; Kim, J. M.; Lee, H. J.; Moon, J. W.; Yoo, M. A.; Nam, J. W.; Cho, S. H.; Ha, J. S.; Yoon, T. I.; Park, J. H.; Choe, D. H.
- 期刊名称Applied Physics Letters
- 作者Lee, J. H.; Lee, S. H.; Kim, W. S.; Lee, H. J.; Heo, J. N.; Jeong, T. W.; Baik, C. W.; Park, S. H.; Yu, SeGi; Park, J. B.; Jin, Y. W.; Kim, J. M.; Lee, H. J.; Moon, J. W.; Yoo, M. A.; Nam, J. W.; Cho, S. H.; Ha, J. S.; Yoon, T. I.; Park, J. H.; Choe, D. H.
- 卷第89卷
- 期第25期
- 印刷ISSN0003-6951
- 文件大小581.35KB
- 发表时间2006
- DOI10.1063/1.2416250