Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories

• 期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
• 作者Guertin, Steven M.; Nguyen, Duc N.; Patterson, Jeffrey D.
• 卷第53卷
• 期第6期
• 印刷ISSN0018-9499
• 文件大小504.81KB
• 发表时间2006-12
• DOI10.1109/tns.2006.885861
• 页码3518-3524