Surface roughness and interface engineering for gate dielectrics on strained layers
- 作者C. K. Maiti; S. K. Samanta; M. K. Bera; S. Chattopadhyay
- 卷第17卷
- 期第9期
- 印刷ISSN0957-4522
- 电子ISSN1573-482X
- 文件大小472.46KB
- 发表时间2006-09
- DOI10.1007/s10854-006-0023-2
- 页码711-722
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