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Signature Testing of Analog and RF Circuits: Algorithms and Methodology

Signature Testing of Analog and RF Circuits: Algorithms and Methodology

Voorakaranam, R.; Akbay, S. S.; Bhattacharya, S.; Cherubal, S.; Chatterjee, A.
  • 作者Voorakaranam, R.; Akbay, S. S.; Bhattacharya, S.; Cherubal, S.; Chatterjee, A.
  • 卷第54卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN1549-8328
  • 文件大小1611.46KB
  • 发表时间2007
  • DOI10.1109/tcsi.2007.895531
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