Similarities in 2- and 6-Line Ferrihydrite Based on Pair Distribution Function Analysis of X-ray Total Scattering
Michel, F. M.; Ehm, L.; Liu, G.; Han, W. Q.; Antao, S. M.; Chupas, P. J.; Lee, P. L.; Knorr, K.; Eulert, H.; Kim, J.; Grey, C. P.; Celestian, A. J.; Gillow, J.; Schoonen, M. A. A.; Strongin, D. R.; Parise, J. B.
- 期刊名称Chemistry of Materials
- 作者Michel, F. M.; Ehm, L.; Liu, G.; Han, W. Q.; Antao, S. M.; Chupas, P. J.; Lee, P. L.; Knorr, K.; Eulert, H.; Kim, J.; Grey, C. P.; Celestian, A. J.; Gillow, J.; Schoonen, M. A. A.; Strongin, D. R.; Parise, J. B.
- 卷第19卷
- 期第6期
- 印刷ISSN0897-4756
- 电子ISSN1520-5002
- 文件大小646.32KB
- 发表时间2007-03
- DOI10.1021/cm062585n
- 页码1489-1496