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In situ treatment of a scanning gate microscopy tip

Gildemeister, A. E.; Ihn, T.; Sigrist, M.; Ensslin, K.; Driscoll, D. C.; Gossard, A. C.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Gildemeister, A. E.; Ihn, T.; Sigrist, M.; Ensslin, K.; Driscoll, D. C.; Gossard, A. C.
卷第90卷
期第21期
印刷ISSN0003-6951
文件大小454.42KB
发表时间2007
DOI10.1063/1.2742314