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thin films probed by EXAFS

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Soo, Y. L.; Weng, S. C.; Sun, W. H.; Chang, S. L.; Lee, W. C.; Chang, Y. S.; Kwo, J.; Hong, M.; Ablett, J. M.; Kao, C.-C.; Liu, D. G.; Lee, J. F.
  • 期刊名称Physical Review B
  • 作者Soo, Y. L.; Weng, S. C.; Sun, W. H.; Chang, S. L.; Lee, W. C.; Chang, Y. S.; Kwo, J.; Hong, M.; Ablett, J. M.; Kao, C.-C.; Liu, D. G.; Lee, J. F.
  • 卷第76卷
  • 期第13期
  • 印刷ISSN1098-0121
  • 电子ISSN1550-235X
  • 文件大小246.30KB
  • 发表时间2007-10-5
  • DOI10.1103/PhysRevB.76.132404
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