Lifetime and leakage current considerations in metal-doped germanium
E. Simoen; C. Claeys; S. Sioncke; J. Van Steenbergen; M. Meuris; S. Forment; J. Vanhellemont; P. Clauws; A. Theuwis
- 作者E. Simoen; C. Claeys; S. Sioncke; J. Van Steenbergen; M. Meuris; S. Forment; J. Vanhellemont; P. Clauws; A. Theuwis
- 卷第18卷
- 期第7期
- 印刷ISSN0957-4522
- 电子ISSN1573-482X
- 文件大小248.41KB
- 发表时间2007-07
- DOI10.1007/s10854-006-9110-7
- 页码799-804