Relation between charge exchange flux and impurity influx studied by perturbation methods of gas puffing, heat load and confinement properties in TRIAM-1M
H. Zushi; Y. Nozaki; R. Bhattacharyay; K. Nakashima; M. Sakamoto; K. Hanada; H. Idei; K. Nakamura; K.N. Sato; S. Nishi; M. Ogawa; K. Takaki; K. Sasaki; Y. Hirooka; M. Hasegawa; H. Xu; S. Kado; T. Shikama; S. Kawasaki; H. Nakashima; A. Higashijima
- 作者H. Zushi; Y. Nozaki; R. Bhattacharyay; K. Nakashima; M. Sakamoto; K. Hanada; H. Idei; K. Nakamura; K.N. Sato; S. Nishi; M. Ogawa; K. Takaki; K. Sasaki; Y. Hirooka; M. Hasegawa; H. Xu; S. Kado; T. Shikama; S. Kawasaki; H. Nakashima; A. Higashijima
- 印刷ISSN0022-3115
- 文件大小640.86KB
- 发表时间2007
- DOI10.1016/j.jnucmat.2007.01.201
- 页码1386-1394