Measurement System Analysis for Binary Data
van Wieringen, Wessel N.; de Mast, Jeroen
- 期刊名称Technometrics
- 作者van Wieringen, Wessel N.; de Mast, Jeroen
- 卷第50卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0040-1706
- 电子ISSN1537-2723
- 文件大小320.05KB
- 发表时间2008-11
- DOI10.1198/004017008000000415
- 页码468-478