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Measurement System Analysis for Binary Data

Measurement System Analysis for Binary Data

van Wieringen, Wessel N.; de Mast, Jeroen
  • 期刊名称Technometrics
  • 作者van Wieringen, Wessel N.; de Mast, Jeroen
  • 卷第50卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0040-1706
  • 电子ISSN1537-2723
  • 文件大小320.05KB
  • 发表时间2008-11
  • DOI10.1198/004017008000000415
  • 页码468-478
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