Modeling of avalanche multiplication and excess noise factor in In[sub 0.52]Al[sub 0.48]As avalanche photodiodes using a simple Monte Carlo model
S. C. L. T. Mun; C. H. Tan; Y. L. Goh; A. R. J. Marshall; J. P. R. David
- 作者S. C. L. T. Mun; C. H. Tan; Y. L. Goh; A. R. J. Marshall; J. P. R. David
- 卷第104卷
- 期第1期
- 文件大小876.28KB
- 发表时间2008
- DOI10.1063/1.2952003