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Submicron Scale Patterning in Sintered Silica Colloidal Crystal Films Using a Focused Ion Beam

Submicron Scale Patterning in Sintered Silica Colloidal Crystal Films Using a Focused Ion Beam

Moran, Jeffrey L.; Wheat, Philip M.; Posner, Jonathan D.

期刊名称Langmuir
作者Moran, Jeffrey L.; Wheat, Philip M.; Posner, Jonathan D.
卷第24卷
期第18期
印刷ISSN0743-7463
电子ISSN1520-5827
文件大小1771.21KB
发表时间2008-09-16
DOI10.1021/la801772q
页码10532-10536

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