海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC 2012 - Pittsburgh, PA, USA (2012.08.6-2012.08.10)] 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - Lightning transient suppression circuit design for avionics equipmentMcCreary, Clay A.; Lail, Brian A. · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2012 - Seoul, Korea (South) (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - A 36V biphasic stimulator with electrode monitoring circuitLee, Edward K.F.; Dai, Rongching; Reeves, Natasha; Yun, Xiao · 2012
[IEEE 2012 IEEE 21st International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) - Hangzhou, China (2012.05.28-2012.05.31)] 2012 IEEE International Symposium on Industrial Electronics - Design of a parallel active common mode current compensation circuitYanli Gao, ; Yonggao Zhang, ; Lizhong Long, · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2012 - Seoul, Korea (South) (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - A novel peripheral circuit for RRAM-based LUTChen, Yi-Chung; Li, Hai; Zhang, Wei · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2012 - Seoul, Korea (South) (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - Memristor circuit for artificial synaptic weighting of pulse inputsSah, Maheshwar Pd.; Yang, Changju; Kim, Hyongsuk; Chua, Leon O · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC 2012 - Pittsburgh, PA, USA (2012.08.6-2012.08.10)] 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - Efficient analysis of radiated immunity of printed circuit boards using SPICEZhao, Huapeng; Gao, Xianke; Wang, Binfang; Li, Erping; Chua, Eng Kee · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2012 - Seoul, Korea (South) (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - A new circuit structure for near field wireless power transmissionYoon, Seung Keun; Kim, Sang Joon; Kwon, Ui Kun · 2012
[IEEE 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2012 - Seoul, Korea (South) (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - Dynamic characterization of building electrical loads by equivalent energy circuit analysisMuthalib, Mohammed; Nwankpa, Chika · 2012
<![CDATA[A Low Quiescent Biased Regulator With High PSR Dedicated to Micropower Sensor Circuits]]>Ong, G. T.; Chan, P. K. · 2010
[IEEE 2011 International Symposium on Integrated Circuits (ISIC) - Singapore, Singapore (2011.12.12-2011.12.14)] 2011 International Symposium on Integrated Circuits - An improved dynamic-biased CMOS operational amplifier for biomedical circuit applicationsTan, H. L.; Ong, G. T.; Chan, P. K. · 2011
mass differenceBrown, D. N.; Fast, J.; McIlwain, R. L.; Miao, T.; Miller, D. H.; Modesitt, M.; Payne, D.; Shibata, E. I.; Shipsey, I. P. J.; Wang, P. N.; Battle, M.; Ernst, J.; Kwon, Y.; Roberts, S.; Thorndike, E. H.; Wang, C. H.; Dominick, J.; Lambrecht, M.; Sanghera, S.; Shelkov, V.; Skwarnicki, T.; Stroynowski, R.; Volobouev, I.; Wei, G.; Zadorozhny, P.; Artuso, M.; Goldberg, M.; He, D.; Horwitz, N.; Kennett, R.; Mountain, R.; Moneti, G. C.; Muheim, F.; Mukhin, Y.; Playfer, S.; Rozen, Y.; Stone, S.; Thulasidas, M.; Vasseur, G.; Zhu, G.; Bartelt, J.; Csorna, S. E.; Egyed, Z.; Jain, V.; Kinoshita, K.; Edwards, K. W.; Ogg, M.; Britton, D. I.; Hyatt, E. R. F.; MacFarlane, D. B.; Patel, P. M.; Akerib, D. S.; Barish, B.; Chadha, M.; Chan, S.; Cowen, D. F.; Eigen, G.; Miller, J. S.; O’Grady, C.; Urheim, J.; Weinstein, A. J.; Acosta, D.; Athanas, M.; Masek, G.; Paar, H. P.; Gronberg, J.; Kutschke, R.; Menary, S.; Morrison, R. J.; Nakanishi, S.; Nelson, H. N.; Nelson, T. K.; Qiao, C.; Richman, J. D.; Ryd, A.; Tajima, H.; Sperka, D.; Witherell, M. S.; Procario, M.; Balest, R.; Cho, K.; Daoudi, M.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Lingel, K.; Lohner, M.; Rankin, P.; Smith, J. G.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berkelman, K.; Bloom, K.; Browder, T. E.; Cassel, D. G.; Cho, H. A.; Coffman, D. M.; Drell, P. S.; Ehrlich, R.; Gaiderev, P.; Garcia-Sciveres, M.; Geiser, B.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Jones, C. D.; Jones, S. L.; Kandaswamy, J.; Katayama, N.; Kim, P. C.; Kreinick, D. L.; Ludwig, G. S.; Masui, J.; Mevissen, J.; Mistry, N. B.; Ng, C. R.; Nordberg, E.; Patterson, J. R.; Peterson, D.; Riley, D.; Salman, S.; Sapper, M.; Würthwein, F.; Avery, P.; Freyberger, A.; Rodriguez, J.; Stephens, R.; Yang, S.; Yelton, J.; Cinabro, D.; Henderson, S.; Liu, T.; Saulnier, M.; Wilson, R.; Yamamoto, H.; Bergfeld, T.; Eisenstein, B. I.; Gollin, G.; Ong, B.; Palmer, M.; Selen, M.; Thaler, J.; Sadoff, A. J.; Ammar, R.; Ball, S.; Baringer, P.; Bean, A.; Besson, D.; Coppage, D.; · Physical Review D · 1994
ν)Alam, M. S.; Kim, I. J.; Nemati, B.; O’Neill, J.; Severini, H.; Sun, C. R.; Zoeller, M. M.; Crawford, G.; Daubenmier, C. M.; Fulton, R.; Fujino, D.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Lee, J.; Malchow, R.; Morrow, F.; Skovpen, Y.; Sung, M.; White, C.; Whitmore, J.; Wilson, P.; Butler, F.; Fu, X.; Kalbfleisch, G.; Lambrecht, M.; Ross, W. R.; Skubic, P.; Snow, J.; Wang, P. L.; Wood, M.; Bortoletto, D.; Brown, D. N.; Fast, J.; McIlwain, R. L.; Miao, T.; Miller, D. H.; Modesitt, M.; Schaffner, S. F.; Shibata, E. I.; Shipsey, I. P. J.; Wang, P. N.; Battle, M.; Ernst, J.; Kroha, H.; Roberts, S.; Sparks, K.; Thorndike, E. H.; Wang, C. H.; Dominick, J.; Sanghera, S.; Skwarnicki, T.; Stroynowski, R.; Artuso, M.; He, D.; Goldberg, M.; Horwitz, N.; Kennett, R.; Moneti, G. C.; Muheim, F.; Mukhin, Y.; Playfer, S.; Rozen, Y.; Stone, S.; Thulasidas, M.; Vasseur, G.; Zhu, G.; Bartelt, J.; Csorna, S. E.; Egyed, Z.; Jain, V.; Sheldon, P.; Akerib, D. S.; Barish, B.; Chadha, M.; Chan, S.; Cowen, D. F.; Eigen, G.; Miller, J. S.; O’Grady, C.; Urheim, J.; Weinstein, A. J.; Acosta, D.; Athanas, M.; Masek, G.; Ong, B.; Paar, H.; Sivertz, M.; Bean, A.; Gronberg, J.; Kutschke, R.; Menary, S.; Morrison, R. J.; Nakanishi, S.; Nelson, H. N.; Nelson, T. K.; Richman, J. D.; Ryd, A.; Tajima, H.; Schmidt, D.; Sperka, D.; Witherell, M. S.; Procario, M.; Yang, S.; Balest, R.; Cho, K.; Daoudi, M.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Lingel, K.; Lohner, M.; Rankin, P.; Smith, J. G.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berkelman, K.; Besson, D.; Browder, T. E.; Cassel, D. G.; Cho, H. A.; Coffman, D. M.; Drell, P. S.; Ehrlich, R.; Garcia-Sciveres, M.; Geiser, B.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Jones, C. D.; Jones, S. L.; Kandaswamy, J.; Katayama, N.; Kim, P. C.; Kreinick, D. L.; Ludwig, G. S.; Masui, J.; Mevissen, J.; Mistry, N. B.; Ng, C. R.; Nordberg, E.; Ogg, M.; Patterson, J. R.; Peterson, D.; Riley, D.; Salman, S.; Sapper, M.; Worden, H.; Würthwein, F.; Avery, P.; Freybe · Physical Review Letters · 1993
LeptonBattle, M.; Ernst, J.; Kwon, Y.; Roberts, S.; Thorndike, E. H.; Wang, C. H.; Dominick, J.; Lambrecht, M.; Sanghera, S.; Shelkov, V.; Skwarnicki, T.; Stroynowski, R.; Volobouev, I.; Wei, G.; Zadorozhny, P.; Artuso, M.; Goldberg, M.; He, D.; Horwitz, N.; Kennett, R.; Mountain, R.; Moneti, G. C.; Muheim, F.; Muheim, Y.; Playfer, S.; Rozen, Y.; Stone, S.; Thulasidas, M.; Vasseur, G.; Zhu, G.; Bartelt, J.; Csorna, S. E.; Egyed, Z.; Jain, V.; Kinoshita, K.; Edwards, K. W.; Ogg, M.; Britton, D. I.; Hyatt, E. R. F.; MacFarlane, D. B.; Patel, P. M.; Akerib, D. S.; Barish, B.; Chadha, M.; Chan, S.; Cowen, D. F.; Eigen, G.; Miller, J. S.; O'Grady, C.; Urheim, J.; Weinstein, A. J.; Acosta, D.; Athanas, M.; Masek, G.; Paar, H. P.; Sivertz, M.; Gronberg, J.; Kutschke, R.; Menary, S.; Morrison, R. J.; Nakanishi, S.; Nelson, H. N.; Nelson, T. K.; Qiao, C.; Richman, J. D.; Ryd, A.; Tajima, H.; Sperka, D.; Witherell, M. S.; Procario, M.; Balest, R.; Cho, K.; Daoudi, M.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Lingel, K.; Lohner, M.; Rankin, P.; Smith, J. G.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berkelman, K.; Bloom, K.; Browder, T. E.; Cassel, D. G.; Cho, H. A.; Coffman, D. M.; Drell, P. S.; Ehrlich, R.; Gaiderev, P.; Galik, R. S.; Garcia-Sciveres, M.; Geiser, B.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Jones, C. D.; Jones, S. L.; Kandaswamy, J.; Katayama, N.; Kim, P. C.; Kreinick, D. L.; Ludwig, G. S.; Masui, J.; Mevissen, J.; Mistry, N. B.; Ng, C. R.; Nordberg, E.; Patterson, J. R.; Peterson, D.; Riley, D.; Salman, S.; Sapper, M.; Würthwein, F.; Avery, P.; Freyberger, A.; Rodriguez, J.; Stephens, R.; Yang, S.; Yelton, J.; Cinabro, D.; Henderson, S.; Liu, T.; Saulnier, M.; Wilson, R.; Yamamoto, H.; Bergfeld, T.; Eisenstein, B. I.; Gollin, G.; Ong, B.; Palmer, M.; Selen, M.; Thaler, J. J.; Sadoff, A. J.; Ammar, R.; Ball, S.; Baringer, P.; Bean, A.; Besson, D.; Coppage, D.; Copty, N.; Davis, R.; Hancock, N.; Kelly, M.; Kwak, N.; Lam, H.; Kubota, Y.; Lattery, M.; Nelson, J. K.; Patt · Physical Review Letters · 1994
in the final stateKubota, Y.; Lattery, M.; Nelson, J. K.; Patton, S.; Perticone, D.; Poling, R.; Savinov, V.; Schrenk, S.; Wang, R.; Alam, M. S.; Kim, I. J.; Nemati, B.; O’Neill, J. J.; Severini, H.; Sun, C. R.; Zoeller, M. M.; Crawford, G.; Daubenmier, C. M.; Fulton, R.; Fujino, D.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Lee, J.; Malchow, R.; Morrow, F.; Skovpen, Y.; Sung, M.; White, C.; Whitmore, J.; Wilson, P.; Butler, F.; Fu, X.; Kalbfleisch, G.; Lambrecht, M.; Ross, W. R.; Skubic, P.; Snow, J.; Wang, P. L.; Wood, M.; Bortoletto, D.; Brown, D. N.; Fast, J.; McIlwain, R. L.; Miao, T.; Miller, D. H.; Modesitt, M.; Schaffner, S. F.; Shibata, E. I.; Shipsey, I. P. J.; Wang, P. N.; Battle, M.; Ernst, J.; Kroha, H.; Roberts, S.; Sparks, K.; Thorndike, E. H.; Wang, C. H.; Dominick, J.; Sanghera, S.; Skwarnicki, T.; Stroynowski, R.; Artuso, M.; He, D.; Goldberg, M.; Horwitz, N.; Kennett, R.; Moneti, G. C.; Muheim, F.; Mukhin, Y.; Playfer, S.; Rozen, Y.; Stone, S.; Thulasidas, M.; Vasseur, G.; Zhu, G.; Bartelt, J.; Csorna, S. E.; Egyed, Z.; Jain, V.; Sheldon, P.; Akerib, D. S.; Barish, B.; Chadha, M.; Chan, S.; Cowen, D. F.; Eigen, G.; Miller, J. S.; O’Grady, C.; Urheim, J.; Weinstein, A. J.; Acosta, D.; Athanas, M.; Masek, G.; Ong, B.; Paar, H.; Sivertz, M.; Bean, A.; Gronberg, J.; Kutschke, R.; Menary, S.; Morrison, R. J.; Nakanishi, S.; Nelson, H. N.; Nelson, T. K.; Richman, J. D.; Ryd, A.; Tajima, H.; Schmidt, D.; Sperka, D.; Witherell, M. S.; Procario, M.; Yang, S.; Balest, R.; Cho, K.; Daoudi, M.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Lingel, K.; Lohner, M.; Rankin, P.; Smith, J. G.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berkelman, K.; Besson, D.; Browder, T. E.; Cassel, D. G.; Cho, H. A.; Coffman, D. M.; Drell, P. S.; Ehrlich, R.; Garcia-Sciveres, M.; Geiser, B.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Jones, C. D.; Jones, S. L.; Kandaswamy, J.; Katayama, N.; Kim, P. C.; Kreinick, D. L.; Ludwig, G. S.; Masui, J.; Mevissen, J.; Mistry, N. B.; Ng, C. R.; Nordberg, E.; Og · Physical Review Letters · 1993
‖Barish, B.; Chadha, M.; Chan, S.; Cowen, D. F.; Eigen, G.; Miller, J. S.; O’Grady, C.; Urheim, J.; Weinstein, A. J.; Acosta, D.; Athanas, M.; Masek, G.; Paar, H. P.; Gronberg, J.; Kutschke, R.; Menary, S.; Morrison, R. J.; Nakanishi, S.; Nelson, H. N.; Nelson, T. K.; Qiao, C.; Richman, J. D.; Ryd, A.; Tajima, H.; Sperka, D.; Witherell, M. S.; Procario, M.; Balest, R.; Cho, K.; Daoudi, M.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Lingel, K.; Lohner, M.; Rankin, P.; Smith, J. G.; Alexander, J. P.; Bebek, C.; Berkelman, K.; Bloom, K.; Browder, T. E.; Cassel, D. G.; Cho, H. A.; Coffman, D. M.; Crowcroft, D. S.; Drell, P. S.; Ehrlich, R.; Gaidarev, P.; Galik, R. S.; Garcia-Sciveres, M.; Geiser, B.; Gittelman, B.; Gray, S. W.; Hartill, D. L.; Heltsley, B. K.; Jones, C. D.; Jones, S. L.; Kandaswamy, J.; Katayama, N.; Kim, P. C.; Kreinick, D. L; Ludwig, G. S.; Masui, J.; Mevissen, J.; Mistry, N. B.; Ng, C. R.; Nordberg, E.; Patterson, J. R.; Peterson, D.; Riley, D.; Salman, S.; Sapper, M.; Würthwein, F.; Avery, P.; Freyberger, A.; Rodriguez, J.; Yang, S.; Yelton, J.; Cinabro, D.; Henderson, S.; Liu, T.; Saulnier, M.; Wilson, R.; Yamamoto, H.; Bergfeld, T.; Eisenstein, B. I.; Gollin, G.; Ong, B.; Palmer, M.; Selen, M.; Thaler, J. J.; Edwards, K. W.; Ogg, M.; Bellerive, A.; Britton, D. I.; Hyatt, E. R. F.; MacFarlane, D. B.; Patel, P. M.; Spaan, B.; Sadoff, A. J.; Ammar, R.; Ball, S.; Baringer, P.; Bean, A.; Besson, D.; Coppage, D.; Copty, N.; Davis, R.; Hancock, N.; Kelly, M.; Kotov, S.; Kravchenko, I.; Kwak, N.; Lam, H.; Kubota, Y.; Lattery, M.; Momayezi, M.; Nelson, J. K.; Patton, S.; Perticone, D.; Poling, R.; Savinov, V.; Schrenk, S.; Wang, R.; Alam, M. S.; Kim, I. J.; Nemati, B.; Ling, Z.; O’Neill, J. J.; Severini, H.; Sun, C. R.; Wappler, F.; Crawford, G.; Daubenmier, C. M.; Fulton, R.; Fujino, D.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Lee, J.; Malchow, R.; Skovpen, Y.; Sung, M.; White, C.; Zoeller, M. M.; Butler, F.; Fu, X.; Kalbfleisch, G.; Ross, W. R.; Skubic, P.; Wo · Physical Review D · 1995