发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

EPR identification of intrinsic defects in SiC

EPR identification of intrinsic defects in SiC

J. Isoya; T. Umeda; N. Mizuochi; N. T. Son; E. Janzén; T. Ohshima

作者J. Isoya; T. Umeda; N. Mizuochi; N. T. Son; E. Janzén; T. Ohshima
卷第245卷
期第7期
印刷ISSN0370-1972
电子ISSN1521-3951
文件大小2322.23KB
发表时间2008
DOI10.1002/pssb.200844209
页码1298-1314

← 返回【学霸图书馆】主页