TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new

• 作者Fabio L. Leite; William F. Alves; Mirta Mir; Yvonne P. Mascarenhas; Paulo S. P. Herrmann; Luiz H. C. Mattoso; Osvaldo N. Oliveira
• 卷第93卷
• 期第2期
• 印刷ISSN0947-8396
• 电子ISSN1432-0630
• 文件大小747.57KB
• 发表时间2008-11
• DOI10.1007/s00339-008-4686-9
• 页码537-542