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Test generation at the algorithm-level for gate-level fault coverage

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Eduardas Bareisa; Vacius Jusas; Kestutis Motiejunas; Rimantas Seinauskas

作者Eduardas Bareisa; Vacius Jusas; Kestutis Motiejunas; Rimantas Seinauskas
卷第48卷
期第7期
印刷ISSN0026-2714
文件大小226.34KB
发表时间2008
DOI10.1016/j.microrel.2008.03.017
页码1093-1101

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