Electrical characterization and reliability study of HEMTs on composite substrates under high electric fields

Tazzoli, A.; Meneghesso, G.; Zanon, F.; Danesin, F.; Zanoni, E.; Bove, P.; Langer, R.; Thorpe, J.

期刊名称Microelectronics Reliability
作者Tazzoli, A.; Meneghesso, G.; Zanon, F.; Danesin, F.; Zanoni, E.; Bove, P.; Langer, R.; Thorpe, J.
卷第48卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小891.24KB
发表时间2008-8
DOI10.1016/j.microrel.2008.07.031
页码1370-1374

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