Americans' Nanotechnology Risk Perception: : Assessing Opinion Change
Sara E. Smiley Smith; H. Dean Hosgood; Evan S. Michelson; Meredith H. Stowe
- 作者Sara E. Smiley Smith; H. Dean Hosgood; Evan S. Michelson; Meredith H. Stowe
- 卷第12卷
- 期第3期
- 印刷ISSN1088-1980
- 电子ISSN1530-9290
- 文件大小136.85KB
- 发表时间2008
- DOI10.1111/j.1530-9290.2008.00032.x
- 页码459-473