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Measurement of pull-off force for planar contact at the microscale

Measurement of pull-off force for planar contact at the microscale

Rabenorosoa, K.; Clevy, C.; Lutz, P.; Gauthier, M.; Rougeot, P.

作者Rabenorosoa, K.; Clevy, C.; Lutz, P.; Gauthier, M.; Rougeot, P.
卷第4卷
期第3期
印刷ISSN1750-0443
文件大小439.74KB
发表时间2009
DOI10.1049/mnl.2009.0034

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