The Dose Effect in Secondary Electron Emission
- 期刊名称IEEE Transactions on Plasma Science
- 作者Kumar, P.; Watts, C.; Svimonishvili, T.; Gilmore, M.; Schamiloglu, E.
- 卷第37卷
- 期第8期
- 印刷ISSN0093-3813
- 电子ISSN1939-9375
- 文件大小1655.68KB
- 发表时间2009-08
- DOI10.1109/tps.2009.2022970
- 页码1537-1551
Digitale Signalverarbeitung 2 ||Schüßler, Hans W. · 2010
MikroanalyseF. Feigl; F. Deutsch; E. Frankel; F. Heysnar; E. Abel; C. van Zijp; P. Rây; P. B. Sarkar; F. Pavelka; L. Rosenthaler; J. Winckelmann; G. Denigès; A. S. Komarowsky; S. M. Korenmann; E. Kronmann; N. Berkmann; H. S. Booth; S. G. Frary; E. M. Chamot; Mason; E. Fränkel; L. L. de Koninck; J. Kisser; K. Lettmayr; E. Wiesenberger; F. Emich; J. Donau; B. V. J. Cuvelier; S. K. Tschirkow; Wilhelm Ostwald; J. Mika; J. V. Dubský; J. Trtílek; E. Hauer; K. Schwarz; Friedrich Müller; K. Geißler; R. Strebinger; H. Holzer; A. Krogh; P. Brandt; Rehberg; M. Nicloux; F. E. Blacet; P. A. Leighton; H. Roth; M. Haitinger; A. Simon; R. Robl; Ed. Haschek; König; Dieterici; F. Exner; W. Kuntara; H. Schmalfuß; Helene Barthmeyer; H. Schaake; P. N. Schürhoff; S. Lakshminarayan; U. M. Nayak; A. Wasitzky; G. Gorbach; E. Eigenberger; F. Vetter; A. Rieche; W. M. Sperry; M. N. Gavrilesco; J. F. Mc Clendon; Fr. Hecht; W. Reich-Rohrwig; C. Urbach; H. Klut; L. W. Winkler; P. L. Kirk; E. G. Moberg; C. L. A. Schmidt; Hans Müller; F. Ruttner; K. L. Maljaroff; W. B. Matskiewitsch; H. Hetterich; P. Krumholz; Fr. L. Hahn; G. Leimbach; W. Scholz; Th. von Fellenberg; K. Kürschner; A. Hanak; J. Bürgi · 1934