发现好书期刊,享受阅读乐趣

海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣

A Case Study of Problems in JEDEC HBM ESD Test Standard

A Case Study of Problems in JEDEC HBM ESD Test Standard

Mingxu Huo, ; Qing Guo, ; Yan Han, ; Lei Shen, ; Qi Liu, ; Bo Song, ; Qingrong Ma, ; Kehan Zhu, ; Yehui Shen, ; Xiaoyang Du, ; Shurong Dong,
  • 期刊名称IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
  • 作者Mingxu Huo, ; Qing Guo, ; Yan Han, ; Lei Shen, ; Qi Liu, ; Bo Song, ; Qingrong Ma, ; Kehan Zhu, ; Yehui Shen, ; Xiaoyang Du, ; Shurong Dong,
  • 卷第9卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN1530-4388
  • 电子ISSN1558-2574
  • 文件大小1068.02KB
  • 发表时间2009-09
  • DOI10.1109/tdmr.2009.2027124
  • 页码361-366
← 返回【学霸图书馆】主页