Reliability of charge trapping memories with high-k control dielectrics (Invited Paper)
G. Molas; M. Bocquet; E. Vianello; L. Perniola; H. Grampeix; J.P. Colonna; L. Masarotto; F. Martin; P. Brianceau; M. Gély; C. Bongiorno; S. Lombardo; G. Pananakakis; G. Ghibaudo; B. De Salvo
- 作者G. Molas; M. Bocquet; E. Vianello; L. Perniola; H. Grampeix; J.P. Colonna; L. Masarotto; F. Martin; P. Brianceau; M. Gély; C. Bongiorno; S. Lombardo; G. Pananakakis; G. Ghibaudo; B. De Salvo
- 卷第86卷
- 印刷ISSN0167-9317
- 文件大小978.81KB
- 发表时间2009
- DOI10.1016/j.mee.2009.03.083
- 页码1796-1803