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De-embedding method for on-wafer RF CMOS inductor measurements

De-embedding method for on-wafer RF CMOS inductor measurements

Maria Drakaki; Alkis A. Hatzopoulos; Stylianos Siskos

作者Maria Drakaki; Alkis A. Hatzopoulos; Stylianos Siskos
卷第40卷
期第6期
印刷ISSN0026-2692
文件大小1615.55KB
发表时间2009
DOI10.1016/j.mejo.2009.01.003
页码958-965

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