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TESTCASE: a benchmark problem for coupled field‐circuit simulations

TESTCASE: a benchmark problem for coupled field‐circuit simulations

Demenko, Andrezej; van der Giet, M.; Lange, E.; Hameyer, K.

期刊名称COMPEL - The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering
作者Demenko, Andrezej; van der Giet, M.; Lange, E.; Hameyer, K.
卷第28卷
期第3期
印刷ISSN0332-1649
文件大小323.73KB
发表时间2009-05-08
DOI10.1108/03321640910940927
页码668-681

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