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The Energy-Driven Hot Carrier Degradation Modes of nMOSFETs

The Energy-Driven Hot Carrier Degradation Modes of nMOSFETs

Guerin, C.; Huard, V.; Bravaix, A.
  • 期刊名称IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
  • 作者Guerin, C.; Huard, V.; Bravaix, A.
  • 印刷ISSN1530-4388
  • 文件大小643.57KB
  • 发表时间2009
  • DOI10.1109/tdmr.2007.898084
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